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北京冠测精电仪器设备有限公司

第2年
4006816680转494
高低频介电常数测试仪

高低频介电常数测试仪

参考价格:¥4000.00
品  牌:北京冠测
产品型号:GCSTD-D
适用范围:高教 职教
所在地区:华北 北京 昌平区
应用院校:理工大学
上架时间:2017-12-11
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    高低频介电常数测试仪

    高低频介电常数测试仪

    GCSTD-D

    性能特点

    ■ 测试频率20Hz~2MHz,10mHz步进
    ■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进
    ■ 基本准确度0.1%
    ■ 最高达200次/s的测量速度
    ■ 320×240点阵大型图形LCD显示
    ■ 五位读数分辨率
    ■ 可测量22种阻抗参数组合
    ■ 四种信号源输出阻抗
    ■ 10点列表扫描测试功能
    ■ 内部自带直流偏置源
    ■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
    ■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
    ■ V、I测试信号电平监视功能
    ■ 图形扫描分析功能
    ■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
    ■ 内建比较器,10档分选及计数功能
    ■ 多种通讯接口方便用户联机使用
    ■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
    ■ 中英文可选操作界面
    ■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

    简要介绍

    广泛的测量对象

    无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

    半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

    其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

    介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

    磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

    半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

    液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

    高低频介电常数测试仪

    技术参数

    测试参数

    C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

    测试频率

    20 Hz~2MHz,10mHz步进

    测试信号电

    f≤1MHz

    10mV~5V,±(10%+10mV)

    f>1MHz

    10mV~1V,±(20%+10mV)

    输出阻抗

    10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

    基本准确度

    0.1%

    L

    0.0001 uH ~ 9.9999kH

    C

    0.0001 pF ~ 9.9999F

    R,X,Z,DCR

    0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ

    显示范围

    Y, B, G

    0.0001 nS ~ 99.999 S

    D

    0.0001 ~ 9.9999

    Q

    0.0001 ~ 99999

    θ

    -179.99°~ 179.99°

    测量速度

    快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

    校准功能

    开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准

    等效方式

    串联方式, 并联方式

    量程方式

    自动, 保持

    显示方式

    直读, Δ, Δ%

    触发方式

    内部, 手动, 外部, 总线

    内部直流偏

    电压模式

    -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

    置源

    电流模式(内阻为50Ω)

    -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

    比较器功能

    10档分选及计数功能

    显示器

    320×240点阵图形LCD显示

    存储器

    可保存20组仪器设定值

    USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

    USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

    接口

    LAN(LXI class C support)

    RS232C

    HANDLER

    GPIB(选件)